水稻整穗考种测量系统

一、水稻整穗考种测量系统介绍：

水稻整穗考种测量系统采用先进的图像处理技术，对单位面积穗数、水稻 穗粒数、一/二次枝梗数量、长度测量、着粒密度、 每穗的穗粒数和千粒重构成，为水稻形态学的研究、 水稻良种选育提供良好的检测工具。 配置：采集器一台，背板一套。

二、水稻整穗考种测量系统功能特点：

1、多参数批量分析：一键化自动分析各枝梗穗粒数、一次枝梗长度和对应穗粒数、二次枝梗长度和对应穗粒数、枝梗着粒密度、穗着粒密度以及平均值等，共测量23个参数指标。

2、枝梗可整体或者分步分析：一次枝梗和二次枝梗可单独分析，也可同时分析。 

3、LED 背光光源装置：能够去除种子阴影和杂质，背光清晰

4、自动换成千粒重：可通过识别的种子粒数，输入重量，可自动换算出千粒重。

5、数据采集方式：可多点快速取样，数据可批量分析并获取平均值。

6、比例尺自动矫正：任意手机可拍照，且拍摄成像视角可以被自动矫正，避免了拍照变形误差。

7、智能修正：动触摸屏幕进行修正，使结果更精准，可达100%。

8、数据查看：数据查看多样化，拍照分析后即可查看结果，也可在历史记录中查看数据报表。

9、数据导出和共享：支持数据修正、查询、编辑和导出，数据可导出Excel格式，并可分享至微信、QQ或者钉钉，便于多应用方式查看数据。

10、动态加密：可通过验证码进行加密，一个账号可在多个手机上使用，但不能同时使用。

三、水稻整穗考种测量系统技术参数：

适用范围：水稻室内考种时期，对水稻穗部形态和千粒重测量

外形尺寸：水稻整穗考种外形尺寸 460*360*16mm

A4背光板尺寸：33.5*23.3*0.4（cm）

测量误差：穗长：≤±2% 

总穗粒数：≤±2% 

各枝梗长度：≤±3mm

千粒重误差±2‰，修正后可达100%

四、水稻整穗考种测量系统硬件配置：

水稻整穗考种背板装置：黑色磨砂材质

背光板：发光超薄背板

数据采集器：超大彩色屏手机